CMOS光譜儀，事實上就是產品中重要組成部件使用CMOS，CMOS光譜儀和一般的光譜儀不同，它既包含了CCD光譜議的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計臺理，操作簡單易學，采用真空光室設計及全數字激發光源。下面和大家說說哪些情況可以導致CMOS光譜儀測量不準確？

影響CMOS光譜儀測量不準確的因素：一、光譜儀標準化分析操作對結果的影響，光譜儀標準化分析操作不及時將會直接影響分析結果的準確性。所以對于儀器的來說，需要定時做儀器的標準化操作。二、聚光透鏡的影響，聚光透鏡是樣品被激發而發出的光進入分光儀的唯 一通道，必須保持鏡面清潔干凈。但如果長期使用透鏡則會受到污染，透鏡外表面將會附著一層茶褐色物質，時間越長，沉積越厚。另外，激發產生的金屬粉末也會粘附在透鏡的外表面上，使分析靈敏度降低，分析誤差增大。在對直讀光譜儀使用過程中，發現設備短期穩定性較好，但長期穩定性相對差一些，特別是對非金屬元素的影響較大。通過觀察，鐵基值下降30%時，說明透鏡已受污染，需及時對透鏡進行處理。

影響CMOS光譜儀測量不準確的因素：三、樣品處理的影響，采用火花發射進行光譜分析時，樣品表面處理好壞將直接影響分析結果的準確度。實驗發現：如果樣品過熱，則氮的分析結果的波動大，精度較差。所以相比研磨片制樣，采用車床進行加工制樣，效果更佳，制樣時間短、樣品表面平整、紋理清晰、不易污染，試樣不會過熱，試樣的分析精度也會比較高。四、氣源純度的影響，光譜分析氣體所用氬氣純度有較高的要求，因此使用高純氬（99.999%），且管路的接頭無任何泄漏點，從而保證分析結果穩定性。另外，可使用氬氣凈化機，保證氬氣的純度。

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